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玉米表型檢測(cè)系統(tǒng) HT-YB-I 支持非破壞性測(cè)量玉米植株，一鍵分析可測(cè) 量葉片的多種參數(shù)：整體參數(shù)：凸包面積、外接矩形面積、長(zhǎng)寬比、側(cè)視角緊湊度、側(cè)視角 投影面積、株高；局部關(guān)鍵參數(shù)：莖稈節(jié)間距和莖粗、葉長(zhǎng)、葉片彎曲度、莖葉夾角。
精誠華泰 玉米表型檢測(cè)儀 可廣泛用于各農(nóng)科院、高校、育種公司、種子站的玉米表型研究！對(duì)遺傳育種研究、突變株篩選、植物形態(tài)建模、生長(zhǎng)研究等方面起到重要作用。
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高桿植物表型檢測(cè)系統(tǒng) HT-YB-I可一鍵檢測(cè)分析玉米凸包面積、外接矩形面積、長(zhǎng)寬比、側(cè)視角緊湊度、側(cè)視角投影面積、玉米株高、莖稈節(jié)間距和基粗葉長(zhǎng)、葉片彎曲度、莖葉夾角和玉米千粒重等高通量表型參數(shù)。
精誠華泰HT-YB-I 玉米表型檢測(cè)系統(tǒng) 可廣泛用于各農(nóng)科院、高校、育種公司、種子站的玉米表型研究！對(duì)遺傳育種研究、突變株篩選、植物形態(tài)建模、生長(zhǎng)研究等方面起到重要作用。
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